產(chǎn)品中心您當前的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 無損檢測儀器 > 涂層測厚儀 > 日本KETT LZ-200J涂層測厚儀 膜厚計
基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：涂層測厚儀 膜厚計
產(chǎn)品型號：日本KETT LZ-200J
產(chǎn)品簡介：
日本KETT LZ-200J 涂層測厚儀 膜厚計本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計功能
產(chǎn)品特性Product characteristics
日本KETT LZ-200J 涂層測厚儀 膜厚計
特點： 本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上的非導電覆層的厚度（如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。內(nèi)置打印機，可打印數(shù)據(jù)，有四個統(tǒng)計功能。
LZ-200J測定方法電磁式及高頻渦流式測定對象磁性金屬上非磁性涂鍍層及非磁性金屬上絕緣層測定范圍電磁式：0～1500um或0～60.0mils高頻式：0～800um或0～32.0mils測定精度電磁式：<15um±0.3um >15um±2%高頻式：<50um±1um >50um±2%分辨率<100um 0.1um >100um 1um界限設(shè)定可設(shè)定上/下限數(shù)值測試單位公/英制互換顯示方式LCD數(shù)顯操作面板密封防水按鍵附屬品鐵基體/鋁基體/校正標準片/電池/皮套/說明書電源DV3V 主機5#堿性電池×6個 打印機5#堿性電池×4個體積80（W）×80（D）×30（H）重量1100g
|
|
|
|
 |
在線客服